NTTとの共同研究成果が Nature の NEWS & VEIWS で紹介

 

題名：Chance match（Harvard大学 Robert M. Westervelt教授による紹介記事）

 

掲載誌：Nature, Vol. 453, pp. 166-167, 2008年5月8日

 

概要：室温で電子１個１個を検出できる高感度電荷計を用いて、MOSFETのショットノイズを実時間で観測することに成功した。この技術を確率的な情報処理に適用し、曖昧さを許容するパタン認識のデモンストレーションを行った。